视彩光电总经理沈欢：Micro LED晶圆级到整机级的全流程检测产业实践

    2025年10月11日，由中国电子视像行业协会指导、中国电子视像行业协会微发光二极管显示产业分会（CMMA）主办、天马微电子股份有限公司联合主办的“2025半导体显示产业年会”在上海新国际博览中心成功举办，天马微电子、TCL、利亚德、京东方、阿尔泰、诺瓦星云、康佳光电、康美特、盟拓智能科技、熙泰、芯视元、理湃光晶、海极半导体、视彩、飞书、厦门质检院等在内的超60家产业链标杆企业的200余位与行业专家登记参会。

    视彩（上海）光电技术有限公司总经理沈欢出席本届年会并发表“视彩Color Vision在Micro LED及XR的应用”主题演讲。

    沈总在演讲中分享了全链路光学测试与校正方案，为Micro LED及XR显示产业链提供了关键的技术赋能。

    在Micro LED领域，视彩实现了从晶圆级到整机级的全流程检测覆盖。针对晶圆级测试，公司开发了结合探针台的点亮检测系统，可同步完成像素级亮度、色度、光谱及发光角度的精确测量，并能进行PL光谱分析和MESA结构检测，为巨量转移前的芯片筛选提供可靠依据。在模组环节，其Demura校正技术能有效改善显示屏的均匀性，同时集成Gamma校正与AOI缺陷检测，显著提升出厂画质一致性。值得一提的是，其Conoscope光学系统可分析正负80度范围内的光型分布，帮助客户优化Micro Lens阵列设计，提升正面出光效率。

    在XR显示应用方面，视彩针对AR/VR设备的特殊需求，推出了多款仿人眼成像镜头和虚像测试方案，支持高达70度视场角的测量，并能实现电动对焦与屈光度调节。公司技术已可完成包括FOV、MTF、鬼影、杂散光、双目融合等关键光学指标的精准测试，最新开发的虚像距测量系统更能同时支持近视与远视模拟测试，为XR设备的视觉舒适度提供了重要保障。

    通过这些覆盖模组到整机的全链路光学测试能力，视彩光电正为Micro LED及XR显示技术的性能优化与量产推进提供不可或缺的检测支撑。

    视彩光电参编2025MLED产业白皮书

    在《2025 MLED显示产业白皮书》编制过程中，视彩（上海）光电技术有限公司作为重要参编单位，依托其在成像光学测量领域深厚的技术积累，为白皮书检测与校正章节提供了关键技术支撑与产业化实践案例。

    视彩光电重点贡献了其在Micro LED及XR显示光学测试领域的全链路解决方案，涵盖从晶圆级到整机级的关键检测技术。其基于成像光谱与亮色度测量的核心仪器，结合像素级定位算法，实现了对Micro LED晶圆的发光性能、光谱特性及MESA结构的精准测量，并为巨量转移工艺提供了可靠的芯片筛选依据。在模组与整机层面，其Demura校正系统有效提升了显示屏的均匀性，同时集成Gamma校正与AOI缺陷检测，显著优化了画质表现。

    视彩光电的深度参与，为白皮书在显示检测与质量管控方面提供了专业且深度的支持，其全链路光学测试方案为行业推进Micro LED与XR显示技术的性能优化提供了关键的技术保障与产业化实践参考。